鋁制保護膜，包括氧化鋁、其他鋁鍍膜及含特性的保護膜等，生產時品質必須受控，保證該薄膜面可符合各種國際規(guī)定的功能標淮。在連續(xù)生產過程中，要測試樣品，可用抽檢方式或在線測量。跟據(jù)這鍍層車間的檢查數(shù)據(jù)的回歸，可以快速執(zhí)行相應操施，例如重置機器操作設定，減少成本（包括品質及材料消耗） 。但這量度程序只適用于透明層料，不適用于廣泛四散層面。

鋁帶或鋁片的鍍層是以反射光測量，白光干涉由反射信號產生。此光學鍍層厚度是應用FFT 式運算法則，結果非?？煽俊６@幾何光學層厚測量是決定于光學、幾何厚度及折射值功能 n=f （波長）之間的關系。 數(shù)值結果有很高的重復性及**準確。由于蔡司使用了**的光學配件及高熱量穩(wěn)定的二極管陣列式的多色儀。薄層厚度在 <500nm 間都可以測量，軟件可執(zhí)行校準及自動控制。這些方法亦可應用于其他鍍層產品。

系統(tǒng)

蔡司提供兩種測量方法：一是帶光纖線的MCS600 系統(tǒng)；另一種是下帶光纖線的CORONA 系統(tǒng)。兩者都是二極管陣列式的多色儀、多通道式設計，波長分辨率分別為0.8nm/pixel 及3.3nm/pixel，連接插頭有RS422、4-20mA、RS232 及RS485。激發(fā)輸入及輸出點皆可選用，系統(tǒng)以電腦操作，多臺光譜儀可疊層連接，以一臺電腦操作，因此可見及NIR 光譜可同時出現(xiàn)於顯示器上。

軟件

一個可選購配置的軟件 ASPECT PLUS Windows 基本軟件 （支援 Windows 軟件） ，可配合鍍層厚度插入軟件使用。若有特別需要，我們可以為編寫其應用軟件，以 LabVIEW 編寫。DLLs 的 C++ 和 LabVIEW 驅動程式容許客戶編寫自已程式，與我們的測量系統(tǒng)完全配合。

優(yōu)點

• 快速及高精度量度

• 極高的鍍層厚度重復性

• 已確識及測試的測量技術

• 高可靠性及低維修要求，這由于沒有可移動部件

• 容易使用軟件

• 快速提供詳細光譜資料

• 富彈性安裝，可使用光纖連接或無光纖技術及一系列配件

• 可分別量度幾個不同點，配光纖多路器或穿越器

• 可直接用穿越器與無光纖系統(tǒng)聯(lián)系

規(guī)格

• 波長范圍 200–1020nm （900–1700nm 選配或層疊）

• 波長清晰度 0.8nm/Diode （2.4 nm Raleigh） / 3.3nm/diode （10nm Raleigh）

• 波長重復性 <0,05 nm

• PC 介面 CORONA 可選用RS 422; RS 232 res. RS 485

• PC 與系統(tǒng)距離 基本電線可延伸至 80 m, 使用光導傳送可延伸至 2.5km

• 光纖石英，600μm 蕊，SMA 連接

• 架 19" 箱或19" 架；19" 保護箱；Corona （無光纖）鐵箱